<div id="l68xv"></div>
<progress id="l68xv"><nobr id="l68xv"></nobr></progress>
    <bdo id="l68xv"><optgroup id="l68xv"><dd id="l68xv"></dd></optgroup></bdo>

    1. <nobr id="l68xv"><optgroup id="l68xv"><big id="l68xv"></big></optgroup></nobr>

      產品中心
      首頁 > 產品中心 > 納米粒度及Zeta電位儀 > 納米粒度分析儀 > 納米粒度及Zeta電位分析儀

      納米粒度及Zeta電位分析儀

      描述:Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發生變化,從而在電學、光學和化學活性等方面表現出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越

      更新日期:2024-01-19
      產品型號:
      廠商性質:生產廠家
      訪問次數:943
      詳情介紹
      品牌其他品牌價格區間面議
      產地類別國產應用領域綜合

        納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發生變化,從而在電學、光學和化學活性等方面表現出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越低,膠體系統穩定性就越差,因此通過測量和調整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩定性。因此,廣泛應用于產品開發、生產、質量控制以及科學研究,以便深入了解產品特性。

       技術類型

      1.png

      Zetatronix?939系列 查看詳情

      采用多角度動態光散射技術,提供更高分辨率的粒度測量結果

      2.png

      Zetatronix?929系列 查看詳情
      采用背向動態光散射技術,可以測量高濃度樣品的粒度

      3.png

      Zetatronix?919系列 查看詳情
      采用經典動態光散射技術測量粒度
      經典動態光散射(DLS)
      背向動態光散射(BSDLS)
      多角度動態光散射(MADLS)

      測量角度11°、90°、175°11°、175°11°、90°
      測量類型


      粒度
      Zeta電位
      分子量
      溫度/時間趨勢


      留言框

      • 產品:

      • 您的單位:

      • 您的姓名:

      • 聯系電話:

      • 常用郵箱:

      • 省份:

      • 詳細地址:

      • 補充說明:

      • 驗證碼:

        請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
      技術支持:化工儀器網   sitemap.xml   管理登陸
      ©2024 版權所有:澳譜特科技(上海)有限公司   備案號:滬ICP備2020032931號-2
      野花在线观看视频高清完整版中文日本丨国产av无码专区亚洲av麻豆丨丨特别黄片无码在线免费在线观看视频丨无码小电影在线观看网站免费观看
      <div id="l68xv"></div>
      <progress id="l68xv"><nobr id="l68xv"></nobr></progress>
      <bdo id="l68xv"><optgroup id="l68xv"><dd id="l68xv"></dd></optgroup></bdo>

      1. <nobr id="l68xv"><optgroup id="l68xv"><big id="l68xv"></big></optgroup></nobr>